B体育官网集微网消息，天眼查显示，长鑫存储技术有限公司“存储器失效测试方法及装置、存储介质及电子设备”专利公布，申请公布日为9月12日，申请公布号为CN116741253A。

　　专利摘要显示，本公开是关于一种存储器失效测试方法、存储器失效测试装置、计算机可读存储介质及电子设备，涉及集成电路技术领域。该存储器失效测试方法，包括：对所述存储器进行加速老化处理，在所述存储器的存储阵列中写入第二存储数据；读取所述存储阵列中的数据，得到读取结果；比较所述第二存储数据和所述读取结果，得到比较结果；根据所述比较结果对所述存储器进行判定。（校对/刘沁宇）