B体育官网集微网消息,天眼查显示,长鑫存储技术有限公司“存储器失效测试方法及装置、存储介质及电子设备”专利公布,申请公布日为9月12日,申请公布号为CN116741253A。
专利摘要显示,本公开是关于一种存储器失效测试方法、存储器失效测试装置、计算机可读存储介质及电子设备,涉及集成电路技术领域。该存储器失效测试方法,包括:对所述存储器进行加速老化处理,在所述存储器的存储阵列中写入第二存储数据;读取所述存储阵列中的数据,得到读取结果;比较所述第二存储数据和所述读取结果,得到比较结果;根据所述比较结果对所述存储器进行判定。(校对/刘沁宇)